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08.01.2014 - 08.02.2017

泓川科技 LTC7000 光谱共焦传感器在多晶硅太阳能电池厚度测量中的应用案例及技术科普

一、多晶硅太阳能电池厚度：发电效率与柔性的平衡艺术多晶硅太阳能电池作为光伏市场的主流产品，其厚度是影响性能的核心参数 —— 既需满足高效发电，又要适应柔性场景的需求，这种 "平衡" 背后是材料特性与工程技术的深度耦合。1. 厚度与发电效率：并非越厚越好的 "倒 U 型" 关系多晶硅太阳能电池的发电效率依赖于光吸收能力与载流子收集效率的协同。当厚度较小时（如＜100 微米），硅材料对太阳光的吸收不充分，尤其是对长波长光子的捕获能力弱，导致光生电子 - 空穴对数量不足，短路电流偏低，效率受限。当厚度增加到 150-200 微米时，光吸收达到饱和，且载流子（电子 - 空穴对）能在复合前有效扩散至 PN 结被收集，此时效率达到峰值 —— 这一范围被视为传统多晶硅电池的 "效率最优区"。若厚度继续增加（如＞200 微米），硅材料中的晶界、缺陷等 "复合中心" 会显著增加载流子损耗：光生载流子需要传输更长距离才能到达 PN 结，途中与缺陷的碰撞概率上升，导致开路电压和填充因子下降，反而抵消了光吸收增加的优势。2. 厚度与柔性：脆性材料的 "减法哲学"硅作为脆性半导体，其柔性（弯曲能力）与厚度成显著反比。根据材料力学理论，弯曲时的最大应力与厚度的平方成正比：传统 150-200 微米的电池片在弯曲时易断裂，无法满足可穿戴设备、柔性建筑光伏等场景需求。当厚度降至 50 微米以下时，电池可实现 "纸张级" 弯曲，但制造难度骤增 —— 硅片薄化过程中易出现翘曲、裂纹，且封装时更易受应力影响，良品率面临挑战。3. 平衡策略：技术突破实现 "鱼与熊掌兼得"为在效率与柔性间找到平衡点，行业已发展出多项关键技术：薄化与高效化结合：金刚线切割技术可稳定生产 100 微米以下硅片；PERC（背面钝化）、HJT（异质结）、TOPCon（隧穿氧化层钝化接触）等技术通过钝化层减少复合，弥补薄化导致的光吸收不足。柔性结构优化：采用 PET/PI 等柔性基板、透明导电膜电极及柔性互联工艺（如导电胶连接），减少应力集中。材料质量提升：通过铸锭工艺优化减少晶界缺陷，氢钝化技术降低载流子复合，确保薄硅片仍有高收集效率。二、泓川科技 LTC7000+LT-CCD：多晶硅电池厚度...

2025 - 08 - 06
泓川科技LTS白光干涉测厚传感器的纳米级计量技术及材料科学应用解析

在材料科学与精密制造领域，“厚度” 这一关键参数的微小偏差可能直接影响产品性能与可靠性。白光干涉测厚传感器凭借其纳米级精度、非接触式测量特性，已成为破解微纳尺度厚度检测难题的核心工具。本文将深入解析其测量技术原理、核心优势，并探讨其在材料科学中的多元应用。一、测量原理：以光为尺，解码干涉信号中的厚度信息白光干涉测厚技术的核心原理源于光学干涉现象。当宽谱白色光源（如超高亮度彩色激光光源）照射到待测样品表面时，光线会在样品的上表面与下表面（或膜层与基层界面）发生反射，形成两束具有光程差的反射光。这两束反射光在空间中相遇后产生干涉，形成特定的彩色干涉条纹或光谱分布 —— 干涉条纹的间距、强度变化及相位差，直接与样品的厚度相关。通过高精度光学系统接收干涉信号，结合样品材料的折射率参数，可通过算法解析干涉条纹的特征，最终映射出样品的厚度值。相较于传统白色 LED 光源，无锡泓川科技 LTS 系列采用的高亮度彩色激光光源能在更宽波段内实现稳定发光，大幅提升了干涉信号的信噪比与测量稳定性；同时，其零发热探头设计（内部仅含镜头结构，无电子元件）避免了因探头升温导致的夹具变形、光轴偏移，从硬件层面保障了测量精度。二、核心技术与优势：精准、高效、适配多元场景白光干涉测厚传感器的技术竞争力体现在多维度的性能突破上：1. 纳米级精度与超高一致性以 LTS 系列为例，其重复精度可达 1nm（确保多次测量数据的一致性），线性误差＜±20nm（全量程内保持高精度输出），即使是 1μm 以下的超薄膜层（如 UTG 超薄柔性玻璃）也能实现精准测量。2. 非接触式测量与无损检测采用光学反射原理，无需与样品表面接触，避免了对脆弱材料（如锂电隔膜、PET 多层膜）的物理损伤，尤其适用于柔性、易变形材料的检测。3. 高速响应与宽范围适配最高 10kHz 的采样频率可满足高速生产线的实时检测需求；测厚范围覆盖 1-2500μm，配合 ±3° 至 ±10° 的测量角度与 5-10mm 的灵活工作距离，可适应曲面玻璃、复杂膜层等特殊形态样品的测量。4. 多参数集成与智能接口除厚度外，还可同步获取表面粗糙度、台阶高度、波纹度等参数，为材料性能评估提供全面数据；支持 RS485、以太网、USB 等 6 种数据接口，兼容 PLC 总线与 PC 端软件（如 TSConfo...

2025 - 07 - 30
基于泓川科技LTC4000F激光位移传感器的凸面镜面 3D 轮廓扫描技术案例

一、方案背景与需求凸面镜面作为光学系统中的关键元件，其 3D 轮廓精度直接影响光学性能（如成像质量、光路偏转精度）。传统接触式测量易划伤镜面，而普通光学测量受限于角度范围和量程，难以覆盖凸面的曲面变化（大段差、大曲率）。针对这一需求，本方案采用LTC4000F 光谱共焦传感器搭配LT-CCS 单通道控制器，利用其超大测量角度、超大量程及高精度特性，实现凸面镜面 3D 轮廓的非接触式精确扫描。二、方案原理与组成1. 核心技术原理：光谱共焦技术光谱共焦技术基于 “不同波长光聚焦于不同距离” 的物理特性：传感器发射的复色光经色散镜头后，不同波长成分在轴向（Z 轴）形成连续聚焦点；当光线照射到凸面镜表面时，只有与表面距离匹配的波长会被反射回传感器，通过光谱仪解析反射光的波长分布，即可精确计算表面距离（Z 值）。该技术尤其适用于透明玻璃测量：透明材料的多界面（上下表面）会反射不同波长的光，系统可通过算法分离各界面信号，避免干扰；同时，非接触式测量可保护凸面镜的精密表面。2. 方案组成核心组件型号作用传感器LTC4000F负责光学信号采集，提供 ±21° 超大测量角度、4000μm 超大量程及 38mm 工作距离，适配凸面镜曲面扫描需求控制器LT-CCS（单通道）处理传感器信号，支持最高 10kHz 采样频率，提供编码器输入（同步运动平台位置）、模拟 / 数字输出及工业接口（Ethernet/USB/RS485）辅助设备精密运动平台带动传感器或凸面镜沿 X/Y 轴运动，实现二维扫描路径覆盖；需具备亚微米级定位精度（匹配传感器 ±0.8μm 重复精度）软件系统Studio 测控软件 + C++/C# 开发包实时显示扫描数据、生成 3D 轮廓模型，支持自定义算法开发（如轮廓拟合、误差分析）三、操作步骤1. 系统搭建与环境准备硬件连接：通过 FC/PC 光纤接口连接 LTC4000F 传感器与 LT-CCS 控制器；控制器通过 Ethernet/USB 连接电脑，通过编码器接口连接运动平台；确保传感器夹持于文档推荐的 “夹持区域”（外径 φ36mm，避免振动影响精度）。环境控制：工作温度保持 050℃（无结露 / 结冰），避免强光直射（减少环境光干扰）；传感器防护等级为 IP40，需避免粉尘直接接触光学镜头。2. 参数配置与标定传感器参数设置：光斑选择：...

2025 - 07 - 13
投受光分离型激光位移传感器国产化替代方案：泓川 LTPD08 与松下 HL-C201A-SP2 全面比对

在高端精密测量领域，投受光分离型激光位移传感器因其独特的光路设计和高精度性能，长期被少数国际品牌垄断。松下 HL-C201A-SP2 作为该领域的标杆产品，以其卓越性能占据市场主导地位，但其 3 万元以上的采购成本及进口供应链限制，始终是国内企业的痛点。无锡泓川科技推出的 LTPD08 激光位移传感器，作为目前国内唯一实现量产的同类型产品，以 1.8 万元以内的价格带和高度兼容的性能参数，为行业提供了真正意义上的无缝替代方案。以下从技术参数、结构设计、应用场景及成本效益四个维度，展开深度对比分析。核心性能参数对标：微米级精度的等效性测量范围与精度指标两款产品均采用 8mm 测量中心距离设计，覆盖 ±0.8mm 测量范围，完全满足半导体封装、精密机械加工等场景的近距高精度检测需求。在关键精度指标上：重复精度：泓川 LTPD08 静态重复精度达 0.01μm（1024 次平均），与松下 HL-C201A-SP2 的 0.01μm 分辨率形成直接对标，两者均采用标准白色陶瓷样件进行标定，数据可信度一致。线性度：LTPD08 的 ±0.03% F.S. 线性误差（±0.5μm）与 HL-C201A-SP2 的 ±0.02% F.S. 处于同一精度梯队，均通过纳米级激光干涉仪验证，满足 GJB 7888-2012 等高精度测量标准要求。温度特性：LTPD08 的 0.03% F.S℃温漂系数略高于松下的 0.01% F.S℃，但通过宽温定制版本（-40℃70℃）可覆盖工业环境需求，而松下标准型号工作温度为 0℃45℃，两者在常规工况下表现相当。光学与电气性能在核心光学参数上，两者采用同源技术路线：光束质量：均采用 655nm 红色半导体激光（2 类激光安全等级），光束直径 20μm@测量中心，光斑形态均为高斯分布，适配细小部件检测。LTPD08 可选配 405nm 蓝光版本，针对透明材料（如晶圆、玻璃）反射率提升 30%，而松下需定制型号支持。采样能力：LTPD08 全量程 50kHz 采样频率与松下 10μs 响应时间（等效 100kHz）形成互补，尤其在量程压缩至 20% 时，LTPD08 可达 160kHz 超高速采样，适用于振动监测等动态场景。接口兼容性：两者均支持 RS485、以太网通信及 0-10V/4-20mA 模拟输出，...

2025 - 07 - 02
泓川科技LTP450W 激光位移传感器定制高防护版本在自动打磨设备中的应用

LTP450W 激光位移传感器在自动打磨设备中的应用方案一、方案背景与需求痛点在铸造工件的自动化打磨场景中，粗糙的表面形貌（如毛边、凹凸不平的铸造纹理）对检测传感器提出了特殊要求：传统点光斑传感器易受表面缺陷干扰导致测量偏差，而大距离检测需求又需兼顾精度与实时性。LTP450W 激光位移传感器凭借宽光斑设计、大测量范围及高精度特性，成为适配自动打磨设备的核心检测元件，可实现从表面位置检测到打磨程度实时测算的全流程闭环控制。二、LTP450W 核心优势与技术特性宽光斑设计，适配粗糙表面检测光斑特性：聚焦点光斑尺寸为 320×4200μm（宽 × 长），相比传统点光斑，可覆盖更大面积的粗糙表面，减少因局部凹凸导致的测量误差，尤其适用于铸造件、锻压件等表面不平整的工件。检测原理：宽光斑通过平均化表面起伏的影响，确保在工件表面粗糙度 Ra20μm 的场景下仍能稳定获取位置数据。大距离测量与高精度兼具测量范围：量程 500mm，检测范围 ±250mm，测量中心距离 450mm，可在远离打磨区域的位置安装，避免磨头飞溅物损伤传感器，同时满足大尺寸工件的检测需求。精度指标：静态重复精度 8μm，线性度 ±0.05% F.S.（F.S.=500mm），配合纳米级激光干涉仪标定，确保打磨过程中微米级的位置变化可被精准捕捉，实现 “毫米级打磨量控制”。高速响应与实时通讯能力采样频率：最高 160kHz（全量程缩小至 20% 时），响应时间最快 6.25μs，可实时跟踪打磨机械手的高速运动（如 2m/s 的打磨速度），避免数据滞后导致的打磨过度或不足。网口通讯与二次开发：支持 TCP/IP 网口协议，可无缝接入工厂 PLC 控制系统或自定义开发软件，通过 C++/C# 软件开发包实现数据实时解析与打磨策略优化（如根据实时测量数据动态调整磨头压力、转速）。工业级耐用性设计环境适应性：防护等级 IP67，可抵御打磨过程中的粉尘、飞溅液；工作温度 0℃~+50℃（宽温版可定制 - 40℃~70℃），满足高温车间环境；抗振能力达 55Hz 双振幅 1.5mm，适应机械手高速运动时的振动场景。硬件可靠性：外壳采用压铸铝材质，电缆线为高柔耐油 PVC，支持 M12 17 芯接插件，确保长期工业环境下的稳定运行。三、自动打磨闭环控制流程系统架构传感器部署：LTP...

2025 - 06 - 23
德国西克SICK激光位移传感器 OD5000-C85T20 与泓川科技 LTP080 参数对比及优劣性分析

引言在工业自动化领域，激光位移传感器作为精密测量的核心元件，其性能参数直接影响系统的测量精度与可靠性。本文针对 SICK 公司的 OD5000-C85T20 与泓川科技的 LTP080 系列激光位移传感器，从测量性能、电气特性、机械结构、环境适应性及成本等维度展开系统性对比，旨在为工程选型提供科学依据。特别值得关注的是，LTP080 的成本仅为 OD5000 的 60%，这一价格优势使其在性价比竞争中具备独特优势。一、测量性能对比（一）测量范围与量程参数OD5000-C85T20LTP080 系列测量范围65 mm ~ 105 mm（镜面反射时 71.5~91.5 mm）检测范围 ±15 mm（量程 30 mm），中心距离 80 mm测量物体自然物体（支持透明材料厚度测量 0.5~2 mm）未明确限制OD5000 的测量范围更宽，且针对镜面反射场景优化了量程，适用于需要大范围动态测量的场景，如大型工件形变检测。LTP080 的量程集中在中心距离 80 mm 附近 ±15 mm，更适合中小尺寸物体的精密定位，如 PCB 板平整度检测。（二）精度指标参数OD5000-C85T20LTP080 系列重复精度0.1 μm（60% 反射率白色陶瓷，平均值 65536）LTP080W：0.5 μm；LTP080U：0.25 μm线性度漫反射近侧 ±7.2 μm，远侧 ±12 μm；镜面反射 ±6 μm±0.02% F.S.（F.S.=30 mm，即 ±6 μm）OD5000 的重复精度显著优于 LTP080W，甚至超越 LTP080U 约 2.5 倍，这得益于其高精度激光干涉标定与复杂的信号平均算法。在线性度方面，两者表现相近，但 OD5000 针对不同反射材质（漫反射 / 镜面反射）提供了更细化的参数，适配性更强。（三）动态特性参数OD5000-C85T20LTP080 系列响应时间≥12.5 μs（取决于平均值设置）最快 6.25 μs（LTP080U 最高 40 μs）采样频率未明确标注Max. 50 kHz（全量程）/160 kHz（量程缩小 20%）LTP080 在动态响应上优势明显，标准型号最快响应时间达 6.25 μs，采样频率最高 160 kHz，适用于高速运动物体的实时监测，如传送带工件尺寸...

2025 - 06 - 19
泓川科技光谱共焦位移传感器在医用玻璃瓶底倾斜度检测中的创新应用

一、行业挑战与泓川科技解决方案在医用玻璃瓶生产领域，透明 / 茶色瓶底的倾斜度检测一直是技术难点：传统接触式传感器（如电感式）因物理接触易划伤瓶底，且采样频率低（≤2kHz），无法满足高速产线需求；激光位移传感器则因光穿透性问题，对透明材料测量失效。泓川科技凭借 LTC7000 系列光谱共焦位移传感器与 LT-CPS/LT-CPS-L 控制器的创新组合，突破了上述瓶颈，为医用玻璃瓶质量管控提供了非接触、高精度、全透明兼容的检测方案。二、核心设备：泓川科技产品矩阵（一）LTC7000 系列光谱共焦位移传感器型号适配：支持 LTC7000/LTC7000B/LTC7000C 多型号，搭配 LT-CPS-L 高亮光源控制器（文档 1），专为透明 / 高反光表面设计；技术参数：采样能力：配合 LT-CPS-L 控制器，最高采样频率达 32kHz（文档 1），可捕捉旋转台高速旋转（10r/min）时的细微位移变化；测量精度：通过纳米级激光干涉仪标定（文档 2 注 3），测量标准镀银膜反射镜时，1kHz 采样率下 10000 组数据均方根偏差≤0.1μm（文档 2 注 2）；环境适应性：工作温度 0°C~+50°C（文档 1），支持 FC/PC 接口光纤（文档 2），适配产线复杂光路布局；结构设计：φ36×84.2mm 紧凑尺寸，仅重 200g（文档 2），便于集成至旋转台检测工位。（二）LT-CPS-L 高亮光源控制器（文档 1）多源协同：单控制器支持 1 路传感头接入，集成 AB/ABZ 编码器输入（可配置触发）、脉冲 / 电平触发信号输入，实现旋转角度与位移数据的精准同步；工业互联：标配 100BASE-TX 以太网接口、USB2.0 高速接口及 Modbus 协议 RS485 接口，兼容 EtherCAT 选配模块，无缝对接工厂 MES 系统；软件生态：搭载泓川科技 Studio 测控软件，提供 C++/C# 二次开发包，支持自定义倾斜度算法开发。三、检测流程：泓川科技全链路技术实现（一）设备部署与光学校准机械安装：将 LTC7000 传感器固定于龙门支架，确保光点垂直聚焦于瓶底边缘，预留光纤接头距离≥100mm（文档 1 尺寸图）；旋转台中心安装高精度 ABZ 编码器（泓川科技推荐适配型号），通过 LT-CPS-L 控制器配置为触发源。光...

2025 - 06 - 05
手机油墨涂刷工艺高精度测量：泓川科技光谱共焦位移传感器应用方案

一、工艺挑战与技术需求在手机制造领域，油墨涂刷工序需完成 7 次精密涂布，单次涂层厚度控制在微米级（典型值 50-200μm），且要求各层平整度误差≤±5μm。传统接触式测量存在划伤风险，而普通光学传感器因光能利用率低（0.1% F.S/°C），难以满足高速在线全检需求。泓川科技基于LTC400 系列光谱共焦位移传感器与LT-CPS 控制器的组合方案，以0.012μm 静态重复精度、±0.12μm 线性误差及高光能利用率（较传统方案高 2 倍），为该工艺提供了全流程闭环测量解决方案。二、方案架构与核心组件（一）硬件系统组成组件型号关键参数工艺适配性说明位移传感器LTC400 系列测量中心距 10mm，量程 ±200μm，光斑 Φ7-112μm非接触测量，适配不同油墨表面特性控制器LT-CPS/LT-CPS-L单通道接入，采样频率最高 32kHz，支持 EtherCAT实时数据处理与工业总线集成连接组件FC/PC 光纤传输距离≤20m抗干扰信号传输（二）技术原理解析光谱共焦技术通过内置棱镜组将宽带光源分解为波长序列，各波长光聚焦于光轴不同位置形成焦斑链。当光线投射到油墨涂层表面时，仅聚焦于该表面的单色光发生镜面反射，经光纤返回后由控制器光谱模块解析波长值，通过公式 D=K⋅λ+b（K为标定系数，λ为反射光波长）计算涂层厚度。该技术突破传统光学三角法的光斑散斑限制，且光能利用率达 60% 以上，尤其适用于低反射率的哑光油墨表面测量。三、实施流程与操作规范（一）工位部署步骤传感器安装依据尺寸图（Φ40×99.4mm），在涂刷头下游 100mm 处通过铝制夹具固定传感器，确保光束以**±43° 入射角**投射至涂层中心（避免边缘溢墨干扰）。选择光斑类型：哑光油墨用 **Φ14μm 大光斑（LTC400B）降低表面粗糙度影响，光面油墨用Φ7μm 聚焦光斑（LTC400）** 提升分辨率。控制器集成通过 RS485 接口（Modbus 协议）与 PLC 通信，实时传输厚度数据（波特率 115200bps）；编码器触发设置：将生产线伺服电机的 ABZ 信号接入控制器，配置为 “每转 1000 脉冲触发一次测量”（对应移动距离 0.1mm / 次）。电气连接：通过 FC/PC 光纤连接传感器与 LT-C...

2025 - 06 - 04
泓川科技 LTP 激光位移传感器：手机摄像头支架平面度检测的革新方案

一、行业背景：智能手机摄影技术升级催生精密检测需求随着智能手机摄影技术向高像素、超广角、长焦等多元化方向发展，摄像头模组的微型化与精密化程度显著提升。作为摄像头光学元件的核心承载结构，摄像头支架的平面度精度直接影响镜头光轴对准、感光元件贴合等关键工艺，进而决定成像质量的稳定性。传统人工目视检测或接触式测量方法因主观性强、效率低、易损伤工件等缺陷，已难以满足微米级精度检测需求。如何实现非接触式、高精度、全流程可控的平面度检测，成为手机零部件智能制造的关键技术瓶颈。二、应用挑战：传统检测手段的局限性在摄像头支架生产过程中，平面度检测面临三大核心挑战：精度要求严苛：支架平面度公差通常要求≤5μm，人工检测受目视误差与操作习惯影响，难以保证数据一致性；接触式测量（如三坐标测量）可能因探头压力导致工件形变，引入测量偏差。材质多样性：现代支架常采用金属（如铝合金）、工程塑料（如 LCP）或复合材料，表面可能存在镀膜、胶水残留或粗糙纹理，传统传感器易受材质反光率、表面粗糙度干扰，导致信号失准。效率与实时性：高速生产线要求检测节拍≤100ms / 件，传统离线抽检模式无法满足实时工艺监控需求，难以实现生产过程的动态质量闭环控制。三、解决方案：LTP 激光位移传感器的非接触式精密测量泓川科技 LTP 系列高精度激光位移传感器针对上述痛点，提供全流程自动化检测方案：非接触式测量技术：采用 405nm 蓝色半导体激光（2 类激光安全等级），通过激光三角法原理实现非接触检测，避免传统接触式测量对支架表面的损伤风险，尤其适用于镀膜镜面或脆弱结构件。微米级测量能力：重复精度达 0.05μm（静态测量标准白色陶瓷样件，均方根偏差 1δS），满足纳米级数据一致性要求；线性度 ±0.03% F.S.（全量程 2mm），通过纳米级激光干涉仪标定，确保全量程范围内测量值与真实值高度吻合；测量速度最高 160kHz（全量程缩小至 20% 时），配合 50kHz 全量程采样模式，可实现高速生产线实时数据采集。全场景适应性设计：多材质兼容：支持金属、橡胶、胶水及粗糙表面稳定测量，突破传统传感器对反光率的依赖；抗干扰能力：IP67 防护等级、-20℃~70℃宽温工作范围（可选订制 - 40℃宽温版），适应车间复杂环境；光束直径 Φ18μm（中心位置），实现微小区域精细化检测，可捕捉支架边缘、凹槽等复杂...

2025 - 05 - 28
光谱共焦传感器在透明玻璃材料中测厚的三大应用-透明瓶测厚，玻璃管测厚，柔性玻璃测厚

一、玻璃管管壁单边测厚应用场景适用于透明玻璃管（如医用输液管、实验室玻璃器皿）的管壁厚度快速检测，尤其适合小管径、薄壁结构的单边非接触式测量。测试方案设备配置传感器：LTC7000S 激光位移传感器（聚焦光斑 Φ25μm，适合微小尺寸测量）。控制器：LT-CPF 系列控制器（单通道模式，采样频率≥1Hz，满足每秒 1 次数据采集需求）。测量模式：折射率模式（默认 K9 光学玻璃折射率，n=1.5168）操作流程将玻璃管固定于大理石平台，选取管壁轴向均匀分布的 3 个点位（如距管口 10mm、30mm、50mm 处）。传感器垂直对准玻璃管外壁，以中心距离 70mm 为基准，静态打点测量。每点位连续采集 30 次数据（间隔 1 秒 / 次），记录厚度值并计算重复精度。技术指标量程：7000μm（检测范围 ±3500μm，覆盖常规玻璃管壁厚范围）。重复精度：实测值 4-5μm（受折射率偏差影响，真值可能存在差异）。线性误差：应用优势操作便捷：无需破坏玻璃管结构，光纤连接传感器与控制器，即插即用。快速响应：单次测量时间环境适应性：IP40 防护等级，可在 0°C~50°C 常温环境稳定工作（避免结露）。注意事项若玻璃管实际折射率与 K9 差异较大（如高硼硅玻璃），需通过标准样件校准折射率以降低误差。建议使用 LTC7000S 的 Φ25μm 聚焦光斑，确保对薄壁边缘的精准定位。二、玻璃瓶上中下三位置厚度检测应用场景针对啤酒瓶、化妆品瓶等圆柱形玻璃瓶，检测瓶身顶部（瓶颈）、中部（瓶身）、底部的厚度均匀性，满足全检或过程质控需求。测试方案设备配置传感器：3 通道 LTC7000S 系列传感器（搭配 LT-CPF 控制器，支持四通道同步采集）。控制器：LT-CPF-L 高亮光源版控制器（单通道采样频率 32kHz，三通道模式下降为≈10kHz，满足 300Hz 工作频率需求）。测量模式：折射率模式（默认 K9 玻璃参数，支持多通道独立配置）。操作流程将瓶子垂直固定于旋转治具，传感器分别对准瓶身顶部、中部、底部（间距≥50mm）。启用控制器三通道同步采集功能，每个位置连续采集 30 次数据（间隔 1 秒 / 次），记录各点位厚度值。通过上位机软件实时显示厚度曲线，计算各点位重复精度。技术指标多通道效率：3 个位置同...

2025 - 05 - 21
为什么要选择宽光斑激光位移传感器来测量锂电池电极的厚度？

一、引言在锂电池生产中，电极厚度是影响电池性能的关键参数。基片涂覆活性物质后形成的粗糙表面，使用传统点光斑传感器测量时易受表面微观形貌影响，导致数据波动大、测量精度不足。本文针对这一问题，提出采用两台 LTP030U 宽光斑激光位移传感器对射测量方案，结合其独特的光学设计与高精度特性，实现锂电池电极厚度的稳定精确测量。二、应用挑战与传感器选型依据（一）测量难点分析锂电池电极基片涂粉后，表面粗糙度可达数微米至数十微米，传统点光斑传感器（光斑直径≤50μm）仅能捕捉单点反射信号，易受表面凹坑、颗粒分布不均等因素干扰，导致测量值出现 ±10μm 以上的波动，无法满足 2-3μm 的精度要求。此外，生产线上的振动、温度变化（0-50℃）及高速运动（需响应时间≤50μs）进一步加剧了测量难度。（二）LTP030U 传感器技术优势宽光斑光学设计LTP030U 采用超宽光斑（35×1100μm），横向覆盖范围达 1.1mm，单次测量可采集数千个微观表面点的综合反射信号，通过统计平均效应有效抑制局部粗糙度干扰，相比点光斑传感器（如 LTP030 聚焦光斑 Φ35μm），信号稳定性提升 80% 以上。亚微米级精度保障传感器静态重复精度达 0.15μm（测量标准陶瓷样件，均方根偏差），线性度 ±0.02% F.S.（F.S.=10mm），温度漂移仅 0.03% F.S/℃，配合对射测量架构，可抵消共模误差（如温度引起的机械形变），满足高精度厚度测量需求。工业级适应性支持 DC 9-36V 宽电压输入、IP67 防护等级，抗 55Hz 振动（X/Y/Z 方向 2 小时），适应产线复杂环境；提供 RS485/TCP/IP 接口及 50kHz 全量程采样频率，兼容高速数据采集与实时控制。三、对射测量原理与系统架构（一）测量原理采用 “双传感器对射式” 架构（如图 1 所示）：两台 LTP030U 分别垂直安装于电极两侧，发射超宽激光束覆盖被测区域（宽度≥1mm）。上传感器测量上表面至探头的距离D1，下传感器测量下表面至探头的距离D2，电极厚度T由公式计算：T=(D1+D2)−L其中L为两台传感器的固定安装间距（参考距离），通过精密机械结构（如大理石基座）确保L的稳定性（误差≤±1μm）。（二）硬件设计要点光路校准利用配套测控软件进行光斑对齐，确保上下光...

2025 - 05 - 14
泓川科技光谱共焦传感器：破解陶瓷片双面差异厚度测量难题

泓川科技光谱共焦技术赋能陶瓷片厚度精密检测一、行业背景与检测挑战在电子元器件、建筑陶瓷、化工容器等领域，陶瓷制品的厚度精度直接决定其功能性与可靠性。例如，高温环境下的绝缘陶瓷需通过精准厚度控制确保热稳定性，电子电路用陶瓷基片的厚度均匀性则影响信号传输质量。当被测陶瓷片呈现 "一面光滑上釉、一面粗糙带孔" 的复杂表面时，传统测量手段难以兼顾光滑面的镜面反射特性与粗糙面的散射干扰问题，如何实现 ±0.6mm 量程内 0.01mm 级精度的非接触式测量，成为生产质量管控的关键难题。二、针对性检测方案设计（一）核心检测指标解析测量范围：覆盖 - 0.6mm~0.6mm 区间，满足绝大多数陶瓷片厚度检测需求精度要求：0.01mm 绝对误差控制，适配精密陶瓷制品的质量分级标准表面特性：差异化表面处理导致反射率与散射率差异显著，需针对性选择传感方案（二）传感器选型依据针对粗糙面检测难题，优选LTC1200B 大光斑光谱共焦位移传感器：光斑特性匹配：采用 Φ19μm 大光斑设计，通过增大探测区域覆盖度，有效平均化粗糙表面微观缺陷（如小孔、凹坑）的散射影响，相较于标准光斑传感器，在 Ra1.6μm 的粗糙表面测量稳定性提升 40%量程精度适配：±600μm（0.6mm）满量程设计完全覆盖检测范围，搭配环境适应性：压铸铝外壳防护等级 IP40，0~50℃工作温度范围，配合 FC/PC 光纤接口设计，可耐受陶瓷生产车间的粉尘环境与温度波动（三）测控系统架构构建基于LT-CCD 双通道控制器的对射式测量系统：双通道同步采集：单通道 10kHz / 双通道 5kHz 采样速率，支持两个 LTC1200B 传感器同步扫描陶瓷片上下表面，实时获取双表面位置数据多模信号输出：提供 ±10V 模拟电压与 4-20mA 电流输出（选配），兼容 PLC 控制系统；集成 Ethernet/USB/RS485 工业接口，支持 Modbus 协议实现数据实时上传智能软件算法：配套 Studio 测控软件内置厚度计算模块，自动完成双传感器数据的差值运算，消除人工换算误差，支持 C++/C# 二次开发满足定制化测控需求三、系统集成与测量原理（一）硬件布局方案采用对射式安装架构：在上釉面侧安装标准光斑传感器（如需）或直接使用 LTC1200B，利用光滑...

2025 - 05 - 06
泓川科技激光位移传感器破解 PCB 板叠片检测难题：高效生产新方案

一、PCB 生产痛点：超薄板叠片检测难在电子制造中，PCB 板厚度仅 0.1-1.6mm，高速传输时极易出现多层重叠，传统检测手段却力不从心：接触式测量：机械探针易压弯薄板，且每秒仅测百次，跟不上产线速度；视觉检测：依赖稳定光源，机台振动（±50μm 级）让图像模糊，漏检率高达 5%。这些问题导致 3%-5% 的废料率，更可能让不良品流入下工序，引发焊接短路等连锁故障，成为产线效率和质量的双重瓶颈。二、精准检测三要素：测准、测快、装得下针对 6mm 厚度的 PCB 板叠片检测，核心需求清晰：测准：单张板厚度公差 ±0.05mm，传感器重复精度需≤0.025mm（留 2 倍裕度）；测快：机台振动频率最高 200Hz，采样频率需≥5kHz，确保每个振动周期采 25 个点；装得下：传输通道窄（50-100mm 间距），传感器体积必须小巧（长宽高≤60×50×30mm）。无锡泓川 LTM2-030 传感器精准匹配：±5mm 测量范围覆盖 6mm 厚度检测，0.00025mm 重复精度（比要求高 200 倍），5kHz 采样频率抗振动，60×50×20.4mm 尺寸轻松嵌入狭窄空间。三、非接触检测方案：三招搞定叠片难题1. 核心原理：激光三角法，微米级捕捉厚度变化655nm 激光束（35μm 细）照射 PCB 板，漫反射光经透镜在感光元件上成像。当板厚变化，光斑位置偏移，通过内置算法实时解算距离，精度达亚微米级，无需接触即可捕捉 0.05mm 的厚度差异。2. 系统搭建：小体积实现大功能硬件：LTM2-030 垂直安装于通道上方 30mm 处，配漫反射增强板提升低反射率板材检测稳定性，屏蔽线抗干扰；软件：TSLaserStudio 实时显示厚度曲线，预设单层 / 多层阈值（如单层 1mm，两层超 2.05mm 报警），滑动窗口滤波过滤振动噪声，连续 5 个超标点触发声光报警；联动：通过 485 串口或模拟信号（±10V）连接 PLC，20ms 内联动机械臂剔除异常板，杜绝不良品流转。3. 三大优势直击痛点抗振耐用：IP67 防护等级，不怕焊接烟尘和切削液；0.25μm 重复精度，机台抖 ±50μm 也能测准，3σ 误差≤1μm；高速适配：5kHz 采样频率，支持 10m/s 线速度检测，...

2025 - 05 - 06
泓川科技白光干涉测厚仪在40μm PET薄膜厚度测量中的应用案例

一、背景与需求在光学薄膜、柔性电子及包装材料领域，聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）薄膜的厚度均匀性直接影响其光学性能、机械强度及阻隔性能。例如，在显示屏光学膜材中，40μm PET膜的厚度偏差需控制在±0.5μm以内，传统接触式测厚仪易划伤膜面，且难以满足纳米级精度要求。本案例采用HT-T系列白光干涉测厚仪，以非接触方式对40μm PET膜进行高精度厚度测量，验证其在实际工业场景中的适用性。二、测量原理1. 白光干涉技术核心白光干涉测厚基于低相干干涉原理：宽带白光光源（如LED）发出的光经分光镜分为两束，分别照射PET膜上下表面并反射。两束反射光因光程差产生干涉，干涉信号强度与光程差相关（图1）。通过傅里叶变换分析干涉光谱的相位信息，精确计算光程差，结合PET折射率（n≈1.65）反推物理厚度：d = \frac{\Delta L}{2n}d=2nΔL其中，ΔL为光程差，d为薄膜实际厚度。2. 技术优势非接触测量：避免划伤柔性PET膜表面。纳米级精度：HT-T系列重复精度达1nm，线性误差±20nm（附件File 2）。宽工作距离：50±2mm（HT-T50探头），适应产线振动环境。高速采样：10kHz采样率，满足在线实时监测需求。三、实验设计与数据验证1. 实验条件样品：工业级40μm PET薄膜（宽度500mm，卷状）。仪器：HT-T50探头+HT-TC-100控制器，光源波长400-700nm。环境：25℃恒温，湿度50% RH，避免温漂影响。2. 测量过程校准：使用NIST标准厚度片（40.0±0.1μm）校准仪器。数据采集：沿薄膜横向等距选取100个点，触发式连续测量（数据见附件File 1）。稳定性测试：连续运行8小时，每10分钟记录一次厚度均值。3. 数据分析重复性：100次测量数据均值为40.601μm，标准差σ=0.12μm，符合±0.5μm工艺要求。长期稳定性：8小时内厚度波动范围±0.15μm（图3），体现仪器抗环境干扰能力。边缘检测：探头在薄膜边缘仍能稳定输出（数据点502.7-503.0秒），无信号丢失。四、应用优势总结高精度与可靠性1nm级重复精度显著优于激光三角法（±0.1μm）和电容法（±1μm）。附件Fi...

2025 - 03 - 31
颠覆传统！泓川科技白光干涉传感器如何以纳米级精度重塑透明膜测厚标准？ ——揭秘FEP+UV胶层总厚度在线检测的“终极方案”

行业困局：透明膜测厚为何成为制造升级的“卡脖子”环节？在高端光学膜、柔性电子等领域，12.5μm FEP膜与8-10μm UV胶层的叠层结构是产品性能的核心保障。然而，传统检测手段却陷入三重困境：精度之殇：千分尺测量误差达±1μm，无法满足超薄叠层管控需求；效率瓶颈：接触式测量导致膜面损伤，离线抽检拖慢产线节奏；信号干扰：多层透明膜反射光叠加，光学传感器误判率超15%。泓川科技破局之道：三大技术革新定义行业新标杆革新1：白光干涉光谱技术——穿透多层膜的“透视眼”原理升级：通过分析FEP（折射率1.34）与UV胶（折射率1.48）的干涉光谱相位差，直接计算总厚度（T=12.5μm+UV胶厚度）；性能实测：在10kHz采样下，线性精度±20nm（达头发丝直径的1/3000），重复性误差＜1nm。革新2：工业级智能探头——高速产线的“隐形卫士”非接触设计：5-10mm宽域工作距离，规避机械碰撞风险；抗干扰内核：弥散光斑（直径4mm）覆盖膜面微区，消除局部缺陷干扰；极速响应：10kHz采样频率适配1.5m/s产线速度，较传统激光方案提速200%。革新3：全链路数字化——从测量到控制的“闭环革命”通过Ethernet实时传输数据至MES系统，驱动UV涂布机动态调节胶厚（调节精度±0.3μm）；内置Modbus协议，0.1秒内触发机械臂精准剔除不良品。实战验证：某国际光学膜巨头产线改造全记录改造前痛点产品：FEP（12.5μm±0.2μm）+ UV胶（9μm±0.5μm），总厚管控范围21.5μm±0.7μm；问题：原激光传感器日均误判超500件，年返工成本高达380万元。泓川方案落地部署架构：在涂布机出口安装HT-T10W探头，水平倾角≤0.5°；配置HT-TC-100W控制器，通过RS485接口联动PLC系统；开发定制算法，自动补偿环境温湿度波动（精度损失＜0.005%）。效果对比： ✅ 精度飞跃：总厚检测误差从±0.8μm降至±0.02μm，CPK值从0.8提升至2.0； ✅ 效率突破：实现100%在线全检，产线速度提升至1.5m/s； ✅ 成本锐减：年维护成本从22万元降至6万元，不良品拦截率99.6%。客户声音：一场由精...

2025 - 03 - 26

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